パッケージ基板用 感光性ソルダーレジスト
SR7300/SR-Fシリーズ
製品基本情報
製品概要
感光性ソルダーレジストSR7300とSR-FはPKG基板に適した感光性ソルダーレジストです。
特長
- 低CTE及び低収縮率によりそり低減を実現し、半導体PKG基板の高実装性、高信頼性（HAST耐性、TCTクラック耐性、Reflow耐性）に寄与します。
- 優れた解像性を実現、半導体PKG基板の高機能化、微細化に貢献します。
- 液状（SR7300）とフィルムタイプ（SR-F）の2種類がございます。
特性
（測定の一例）
| 項目 | 条件 | 単位 | SR7300 SR-F |
|---|---|---|---|
| 解像性 | 20 µm thickness | µmΦ | 50 |
| ガラス転移温度 Tg | TMA | ℃ | 130 -140 |
| CTE | α1 | ppm/℃ | 38 |
| 弾性率 | DMA, 23℃ | MPa | 5,000 |
| 引張り強度 | S-S, 23 ℃ | MPa | 95 |
| 伸び率 | S-S, 23 ℃ | % | 4.2 |
| 銅密着性 | 90°peel (on CZ treatment) |
N/m | >0.6 |
| 重量減少（5%) | TG-DTA | ℃ | 346 |
- ※ フィルム膜厚は応相談
- サーマルサイクル試験
TEST vehicle
| Reflow 10 times | After 1000 cycle | After 2000 cycle | After 3000cycle | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Continuity check |
CSAM | Continuity check |
CSAM | Continuity check |
CSAM | Continuity check |
CSAM | |
| SR7300 / SR-F | Pass | Pass | Pass | Pass | Pass | Pass | Pass | Pass |
| conventional | Pass | Pass | Pass | Pass | Pass | Pass | NG | NG |
- ※ CSAM:Constant-depth mode Scanning Acoustic Microscope